เครื่องวิเคราะห์โครงข่ายเวกเตอร์ซีรีส์ 3674

ภาพรวมผลิตภัณฑ์

เครื่องวิเคราะห์โครงข่ายเวกเตอร์ซีรีส์ 3674 ของ Ceyear เป็นผลลัพธ์สูงสุดของนวัตกรรมทางเทคโนโลยี สามารถรองรับความท้าทายที่ซับซ้อนจากงานทดสอบชิปเซมิคอนดักเตอร์ การทดสอบวัสดุ การทดสอบเสาอากาศ การทดสอบสายสัญญาณความเร็วสูง และการทดสอบอุปกรณ์ไมโครเวฟ เป็นต้น

มีคุณลักษณะ RF ที่ยอดเยี่ยม การกำหนดค่าฮาร์ดแวร์ที่ยืดหยุ่น และฟังก์ชันซอฟต์แวร์ที่ครบถ้วน ซึ่งทำงานสอดประสานกันอย่างมีประสิทธิภาพ การเชื่อมต่อเพียงครั้งเดียวสามารถดำเนินงานวัดได้หลากหลายรูปแบบ การออกแบบระบบปฏิสัมพันธ์ระหว่างผู้ใช้กับเครื่อง (Human-Computer Interaction) แบบใหม่ ช่วยให้ตั้งค่าการวัดได้อย่างรวดเร็วและสะดวก พร้อมหน้าจอสัมผัสขนาดใหญ่ที่มอบประสบการณ์การใช้งานที่ยืดหยุ่นและมีประสิทธิภาพ

คุณสมบัติ

1. ครอบคลุมย่านความถี่แบบโคแอกเชียลกว้าง 500 Hz ~ 110 GHz

2. แบนด์วิดท์ IF 30 MHz รองรับจุดวัดสูงสุด 200,001 จุด

3. ความเร็วในการสแกนสูงพิเศษ พร้อมช่วงไดนามิกกว้างถึง 140 dB

4. รองรับฟังก์ชันการวัดมากถึง 21 รายการ เช่น การวัดพารามิเตอร์ S แบบพัลส์ การวัดอุปกรณ์แปลงความถี่ การวัดการอัดกำลัง (Gain Compression) การวัดค่าสัมประสิทธิ์สัญญาณรบกวน (Noise Figure) การวัดสเปกตรัม การวัดความสมบูรณ์ของสัญญาณ (Signal Integrity) การวัดความเพี้ยนฮาร์มอนิกรวม (THD) การวัดความเพี้ยนอินเตอร์มอดูเลชันของอุปกรณ์แอกทีฟ และการลบผลกระทบของฟิกซ์เจอร์อัตโนมัติ เป็นต้น

5.รองรับการบันทึกคำสั่ง SCPI แบบซิงโครไนซ์ และสร้างสคริปต์ได้ด้วยคลิกเดียว

6. หน้าจอแสดงผลหลายพารามิเตอร์ขนาด 15.6 นิ้ว แสดงผลพร้อมกันในหน้าจอเดียว รองรับการสัมผัสแบบมัลติทัช

การใช้งานทั่วไป

มีระบบมอดูเลชันแบบพัลส์ในตัว ทำให้การทดสอบรวดเร็วและง่ายดาย

มีเครื่องกำเนิดพัลส์ 4 ช่องในตัว สำหรับการมอดูเลตแหล่งสัญญาณภายใน การควบคุม IF Gate และการส่งออกจากแผงด้านหลัง โดยสามารถตั้งค่าความกว้างพัลส์และเวลาหน่วง (Time Delay) ของแต่ละช่องได้อย่างอิสระ

แหล่งมอดูเลชันของแหล่งกำเนิดสัญญาณรองรับหลายโหมด เช่น อินพุตจากแผงด้านหลัง เครื่องกำเนิดพัลส์ภายใน สถานะเปิดปกติ (Normally Open) และปิดปกติ (Normally Closed) แหล่งกำเนิดของเครื่องสามารถมอดูเลตด้วยพัลส์ภายนอก หรือมอดูเลตผ่านตัวมอดูเลเตอร์ภายนอก และวัดผลโดยการทริกเกอร์ในโหมดซิงโครไนซ์

ฟังก์ชันวัดพารามิเตอร์ S แบบพัลส์ให้การสนับสนุนที่ทรงพลังสำหรับการทดสอบอุปกรณ์เรดาร์ T/R ส่วนประกอบเสาอากาศ และโมดูลรับส่งสัญญาณ

การวัดคุณลักษณะมิกเซอร์/คอนเวอร์เตอร์แบบครบวงจร รองรับการตั้งค่าการวัดคุณลักษณะของมิกเซอร์/คอนเวอร์เตอร์อย่างครบถ้วน รองรับการกระตุ้นฮาร์มอนิกลำดับสองของสัญญาณหลัก และรองรับอินพุตแหล่งสัญญาณหลักจากภายนอก รองรับรูปแบบการสแกนหลายประเภท เช่น การกวาดแบบเชิงเส้น การกวาดกำลัง และการกวาดแบบแบ่งช่วง การตั้งค่าอย่างง่ายสามารถดำเนินการกำหนดค่าที่ซับซ้อนของมิกเซอร์ได้โดยอัตโนมัติ เช่น การกำหนด RF ของมิกเซอร์ การใช้ LO คู่ การทวีคูณความถี่ IF และการจัดสรรความถี่ รองรับการตั้งค่ากำลังของพอร์ตแหล่งสัญญาณ กำลังของพอร์ตออสซิลเลเตอร์ท้องถิ่น (LO) ค่า Attenuation และคุณลักษณะการกวาดกำลัง

การทดสอบและวิเคราะห์คุณลักษณะการตอบสนองแอมพลิจูดของค่าการสูญเสียจากการแปลงความถี่อย่างง่ายและมีประสิทธิภาพ รองรับฟังก์ชันการวัดค่าการสูญเสียจากการแปลงความถี่ของมิกเซอร์/คอนเวอร์เตอร์ได้อย่างตรงไปตรงมาและแม่นยำ พร้อมเสริมความแม่นยำของการสอบเทียบกำลังด้วยการใช้ Power Meter เพื่อดำเนินการสอบเทียบย่านความถี่เต็มช่วงทั้งด้าน RF และ IF

วิธีการสอบเทียบกำลังแบบสองแหล่งอิสระสำหรับการทดสอบและวิเคราะห์อุปกรณ์แปลงความถี่แบบไม่แทรก รองรับการสอบเทียบกำลังของแหล่งสัญญาณและตัวรับสัญญาณแบบอิสระสองชุด พร้อมโซลูชันสำหรับโหมดการเชื่อมต่อแบบไม่แทรกผ่านโหมดแยกพอร์ต แทนการใช้วิธี De-embedding ของคอนเน็กเตอร์หรือ Power Meter เพื่อให้ได้รูปแบบการสอบเทียบที่แม่นยำยิ่งขึ้นสำหรับอุปกรณ์ที่วัดแบบไม่แทรกในเส้นทางสัญญาณ

• เครื่องเดียวสามารถดำเนินการทดสอบและวิเคราะห์การตอบสนองแอมพลิจูด และการตอบสนองเฟสสัมบูรณ์รวมถึงค่าหน่วงเวลา (Time Delay) ได้พร้อมกัน
  

ให้ความสามารถในการวัดการตอบสนองของมิกเซอร์ / ตัวแปลงความถี่ ทั้งในด้านแอมพลิจูด การตอบสนองเฟสสัมบูรณ์ และการตอบสนองดีเลย์สัมบูรณ์ โดยสามารถทำการวัดคุณลักษณะเชิงซ้อนของมิกเซอร์ / ตัวแปลงความถี่ได้ครบถ้วนด้วยการเชื่อมต่อเพียงครั้งเดียว และมีความแม่นยำสูงทั้งในการวัดแอมพลิจูดและเฟส

การกำหนดลักษณะเฉพาะของมิกเซอร์ / คอนเวอร์เตอร์

การวิเคราะห์การวัดแบบเวกเตอร์ของมิกเซอร์ / คอนเวอร์เตอร์ สามารถดำเนินการกำหนดลักษณะเฉพาะ (Characterization) ของมิกเซอร์ได้อย่างครบถ้วน ซึ่งใช้สำหรับระบุคุณลักษณะต่าง ๆ ของมิกเซอร์ และเพื่อให้ได้พารามิเตอร์คุณลักษณะของคอนเวอร์เตอร์

ฟังก์ชันการกำหนดลักษณะเฉพาะนี้ทำงานเป็นฟังก์ชันอิสระ และไฟล์ข้อมูลการกำหนดลักษณะเฉพาะของมิกเซอร์ที่สร้างขึ้น สามารถถูกเรียกใช้งานโดยอัตโนมัติในการวิเคราะห์การวัดแบบเวกเตอร์

• เชื่อมต่อเพียงครั้งเดียว สามารถทดสอบพารามิเตอร์การอัดกำลังขยายของแอมพลิฟายเออร์ได้อย่างรวดเร็ว

ฟังก์ชันการวัดการอัดกำลังขยาย (Gain Compression) สามารถทำการวัดค่าเกนเชิงเส้น (Linear Gain), เกนที่จุดอัด (Compression Point Gain), กำลังขาเข้า (Input Power), กำลังขาออก (Output Power) และการแมตช์อินพุตในสภาวะเชิงเส้นของอุปกรณ์แอคทีฟ ได้ครบถ้วนภายใต้การเชื่อมต่อเพียงครั้งเดียวและการคาลิเบรตเพียงครั้งเดียว

การคาลิเบรตกำลังและการคาลิเบรตรีซีฟเวอร์เพื่อให้ได้การวัดที่มีความแม่นยำสูง

การคาลิเบรตกำลัง (Power Calibration) และการคาลิเบรตรีซีฟเวอร์ (Receiver Calibration) ช่วยให้สามารถวัดค่ากำลังขาเข้าที่จุดอัด (Compression Point Input Power) และกำลังขาออกได้อย่างแม่นยำ รวมถึงให้ค่าการวัดเกนที่ถูกต้อง และค่าการแมตช์ขาเข้า/ขาออกที่แม่นยำ
วิธีการสแกนและวิธีการวัดจุดอัดที่หลากหลาย รองรับสถานการณ์การวัดที่แตกต่างกัน
การสแกนอัจฉริยะสามารถค้นหาจุดอัดได้อย่างรวดเร็วและแม่นยำ รองรับโหมดการสแกนกำลังในแต่ละความถี่ (Power Scanning at Each Frequency Point) และโหมดการสแกนความถี่ในแต่ละระดับกำลัง (Frequency Scanning at Each Power Point) เพื่อให้ได้ข้อมูลการวัดที่ครบถ้วน
รองรับวิธีการวัดการอัดหลายรูปแบบ ได้แก่ การอัดจากเกนเชิงเส้น (Linear Gain Compression) การอัดจากเกนสูงสุด (Maximum Gain Compression) การอัดจากจุดตกกลับ (Fallback Point Compression) การอัดแบบ X/Y (X/Y Compression) การอัดในสภาวะอิ่มตัว (Saturated State Compression)
ผู้ใช้งานสามารถเลือกวิธีการวัดการอัดให้เหมาะสมกับประเภทของการทดสอบและสถานการณ์การวัดที่แตกต่างกัน
การแสดงผลแบบ 3 มิติ (3D View) เพื่อแสดงลักษณะของชิ้นงานที่ทดสอบอย่างชัดเจน
มีฟังก์ชันการแสดงผลแบบ 3 มิติ เพื่อช่วยให้เห็นสมรรถนะของอุปกรณ์ที่ทดสอบภายใต้สภาวะการกระตุ้น (Excitation State) ได้ชัดเจนยิ่งขึ้น นอกจากนี้ยังสามารถแสดงโปรไฟล์ตามความถี่ (Frequency Profile) และโปรไฟล์ตามกำลัง (Power Profile) เพื่อแสดงคุณลักษณะของอุปกรณ์ที่วัดได้ในแต่ละจุดความถี่และแต่ละระดับกำลังอย่างชัดเจน

• รวดเร็ว แม่นยำ และมีช่วงไดนามิกกว้าง

การเชื่อมต่อหลักเพียงครั้งเดียว สามารถทดสอบพารามิเตอร์ S, ค่าสัมประสิทธิ์สัญญาณรบกวน (Noise Figure), พารามิเตอร์สัญญาณรบกวน (Noise Parameters), การอัดกำลังขยาย (Gain Compression) และเกนการแปลงความถี่ (Frequency Conversion Gain) ได้พร้อมกัน

โดยอาศัยวิธีการทดสอบค่าสัมประสิทธิ์สัญญาณรบกวนแบบแหล่งกำเนิดเย็น (Cold Source Noise Figure Method) สามารถทำการวัดค่าสัมประสิทธิ์สัญญาณรบกวนและพารามิเตอร์สัญญาณรบกวนได้อย่างแม่นยำ ด้วยการสร้างแบบจำลองเมทริกซ์ความสัมพันธ์ของสัญญาณรบกวนขั้นสูง (Advanced Noise Correlation Matrix Model) และผสานเข้ากับการคาลิเบรตพารามิเตอร์ S อย่างแม่นยำของเครื่องวิเคราะห์โครงข่ายเวกเตอร์ (Vector Network Analyzer: VNA) จึงเหมาะสำหรับการทดสอบอุปกรณ์ที่มีค่าสัมประสิทธิ์สัญญาณรบกวนต่ำได้อย่างแม่นยำ

ช่วงไดนามิกของการวัดสามารถสูงถึง 55 dB จึงเหมาะสำหรับการทดสอบอุปกรณ์ที่มีกำลังขยายสูง

การวิเคราะห์การทดสอบค่าสัมประสิทธิ์สัญญาณรบกวนของอุปกรณ์อินเทอร์เฟซไม่มาตรฐาน เช่น ชิปไมโครเวฟ

ด้วยเทคโนโลยีฝังและแยกฝังสัญญาณรบกวน (Noise Embedding / De-embedding) ที่ได้รับการจดสิทธิบัตร ทำให้สามารถทดสอบค่าสัมประสิทธิ์สัญญาณรบกวนของอุปกรณ์ที่มีอินเทอร์เฟซไม่มาตรฐานได้ โดยเฉพาะอย่างยิ่งสามารถแก้ปัญหาการวัดค่าสัมประสิทธิ์สัญญาณรบกวนของชิปไมโครเวฟในขั้นตอนการทดสอบบนชิป (On-wafer / Chip Test) และลดผลกระทบจากความไม่แมตช์ระหว่างอุปกรณ์ที่ทดสอบกับอุปกรณ์ทดสอบได้อย่างมีประสิทธิภาพ

การทดสอบและวิเคราะห์พารามิเตอร์สัญญาณรบกวน

สามารถทดสอบค่าสัมประสิทธิ์สัญญาณรบกวน (Noise Figure) และพารามิเตอร์สัญญาณรบกวน (Noise Parameters) ได้พร้อมกัน ซึ่งครอบคลุมถึงค่าขนาด (Amplitude) และเฟส (Phase) ของค่าสัมประสิทธิ์สัญญาณรบกวนต่ำสุด (Minimum Noise Figure), ค่าความต้านทานภายในด้านสัญญาณรบกวน (Noise Internal Resistance) และค่าสัมประสิทธิ์การสะท้อนที่เหมาะสมที่สุด (Optimal Reflection Coefficient)

ผลกระทบจากพารามิเตอร์สัญญาณรบกวนสามารถลดหรือกำจัดได้ โดยการปรับแก้ (Correction) ที่ตัวรับกำลังสัญญาณรบกวน (Noise Power Receiver) เพื่อให้ได้ผลการวัดที่แม่นยำยิ่งขึ้น

• ค้นหาสเปกตรัมสัญญาณรบกวน (Stray Spectra) และฮาร์มอนิกของอุปกรณ์หลายพอร์ตได้อย่างรวดเร็ว

แต่ละพอร์ตของเครื่องวิเคราะห์โครงข่ายเวกเตอร์ (Vector Network Analyzer: VNA) สามารถทำการวัดสเปกตรัมของสัญญาณทั้งขาเข้าและขาออกของอุปกรณ์ที่ทดสอบได้ โดยเทคโนโลยีการวัดสเปกตรัมที่อาศัยการแปลงฟูเรียร์แบบรวดเร็ว (Fast Fourier Transform: FFT) สามารถระบุตำแหน่งของสเปกตรัมสัญญาณรบกวน (Stray Spectrum) และฮาร์มอนิกของสเปกตรัมที่วัดได้อย่างรวดเร็ว แม้ในสภาวะแบนด์วิดท์ความละเอียดต่ำ (Small Resolution Bandwidth)

การเชื่อมต่อเพียงครั้งเดียวด้วยเครื่องมือเพียงเครื่องเดียว สามารถประเมินพารามิเตอร์หลายรายการของอุปกรณ์ที่ทดสอบได้ครบถ้วน

สำหรับการทดสอบอุปกรณ์แอคทีฟ ฟังก์ชันวัดสเปกตรัมสามารถให้พารามิเตอร์การวัดเพิ่มเติมได้ โดยเครื่องมือเพียงเครื่องเดียวสามารถดำเนินการทดสอบพารามิเตอร์ S แบบมาตรฐาน รวมถึงการระบุตำแหน่งสัญญาณรบกวนและฮาร์มอนิก นอกจากนี้ เทคโนโลยีการแก้ไขข้อผิดพลาดทั้งแบบอัตราส่วน (Ratio Measurement Error Correction) และแบบค่าสัมบูรณ์ (Absolute Measurement Error Correction) ช่วยให้ผลการวัดมีความแม่นยำยิ่งขึ้น

ฟังก์ชันการทำเครื่องหมายและการวัดที่มีประสิทธิภาพสูง

ระบบทำเครื่องหมาย (Marker) ในฟังก์ชันวัดสเปกตรัมสามารถแสดงค่ากำลังภายในแบนด์ (In-band Power), ความหนาแน่นกำลังสเปกตรัม (Power Spectral Density), แบนด์วิดท์ที่ใช้งาน (Occupied Bandwidth), อัตราส่วนกำลังช่องข้างเคียง (Adjacent Channel Power Ratio: ACPR) และตัวชี้วัดอื่น ๆ พร้อมรองรับการตั้งค่าเพียงคลิกเดียว และอัปเดตผลแบบเรียลไทม์

• ครอบคลุมย่านความถี่กว้างพิเศษ รองรับการวิเคราะห์โดเมนเวลา (Time-Domain Analysis) ด้วยความละเอียดระดับไมครอน

ความสามารถในการวัดและวิเคราะห์ความสมบูรณ์ของสัญญาณ (Signal Integrity) ที่ทรงพลัง สามารถให้ความละเอียดเชิงพื้นที่ระดับไมครอน เหมาะสำหรับการทดสอบแพ็กเกจชิปขนาดเล็ก และช่วยแก้ปัญหาการระบุตำแหน่งจุดไม่ต่อเนื่อง (Discontinuity) ได้อย่างแม่นยำ

การทดสอบและวิเคราะห์ความสมบูรณ์ของสัญญาณในมุมมองเดียว

สามารถทำการวิเคราะห์ทั้งโดเมนเวลา (Time Domain) และโดเมนความถี่ (Frequency Domain) ได้ภายในหน้าจอเดียว ช่วยให้ผู้ใช้งานค้นหาต้นตอของความไม่ต่อเนื่องของอิมพีแดนซ์ (Impedance Discontinuity), การสะท้อน (Reflection) และครอสทอล์ก (Crosstalk) ได้อย่างรวดเร็ว

สามารถวัดคุณลักษณะอิมพีแดนซ์ของสายส่ง (Transmission Line) ได้อย่างแม่นยำ พร้อมรองรับการทดสอบครอสทอล์กทั้งแบบใกล้ต้นทาง (Near-End Crosstalk: NEXT) และปลายทางไกล (Far-End Crosstalk: FEXT) ได้อย่างสะดวก เพื่อประเมินระดับการรบกวนระหว่างสายส่งหลายเส้น

แผนภาพตา (Eye Diagram) จำลองเพื่อการวิเคราะห์ความสมบูรณ์ของสัญญาณอย่างรวดเร็ว

รองรับฟังก์ชันสร้างและวิเคราะห์แผนภาพตาเสมือน (Virtual Eye Diagram) บนพื้นฐานของพารามิเตอร์โครงข่าย (Network Parameters) โดยสามารถเลือกเทมเพลตแผนภาพตาที่กำหนดไว้ล่วงหน้าตามมาตรฐานการสื่อสารดิจิทัลความเร็วสูงต่าง ๆ เพื่อทำการทดสอบแบบผ่าน/ไม่ผ่าน (Pass/Fail) ได้อย่างมีประสิทธิภาพ

สามารถเพิ่มจิตเตอร์ (Jitter), สัญญาณรบกวน (Noise) และสัญญาณรบกวนอื่น ๆ ลงในแผนภาพตาจำลอง รวมถึงจำลองแผนภาพตาในตำแหน่งต่าง ๆ ของลิงก์ความเร็วสูง ด้วยการเพิ่มอัลกอริทึมการชดเชย เช่น พรีอีมฟาซิส (Pre-emphasis) และอีควอไลเซชัน (Equalization) เพื่อวิเคราะห์พฤติกรรมของสัญญาณได้อย่างละเอียด

• การทดสอบและวิเคราะห์ฮาร์มอนิกหลายลำดับของแอมพลิฟายเออร์แบบดิฟเฟอเรนเชียลที่ครอบคลุมย่านความถี่กว้าง

การทดสอบแบบบรอดแบนด์สามารถใช้สำหรับการวัดและวิเคราะห์กำลังขาเข้า กำลังขาออก เกน (Gain) ค่าความเพี้ยนฮาร์มอนิกรวม (Total Harmonic Distortion: THD) และพารามิเตอร์อื่น ๆ ภายใต้สภาวะกระตุ้นแบบดิฟเฟอเรนเชียลแท้จริง (True Differential Excitation) อีกทั้งยังช่วยลดความซับซ้อนในการทดสอบสมรรถนะด้านฮาร์มอนิกของอุปกรณ์แอคทีฟแบบดิฟเฟอเรนเชียล เช่น แอมพลิฟายเออร์

การคาลิเบรตเพียงครั้งเดียว สามารถแก้ไขความคลาดเคลื่อนหลายช่องสัญญาณได้พร้อมกัน

การคาลิเบรตเพียงครั้งเดียวสามารถดำเนินการแก้ไขข้อผิดพลาดหลายช่องสัญญาณได้พร้อมกัน ทั้งสำหรับพารามิเตอร์ S มาตรฐานและค่าความเพี้ยนฮาร์มอนิกรวม ครอบคลุมการแก้ไขข้อผิดพลาดของการวัดแบบอัตราส่วน (Ratio Measurement Error), ข้อผิดพลาดของรีซีฟเวอร์แบบค่าสัมบูรณ์ (Absolute Receiver Measurement Error) และการแก้ไขข้อผิดพลาดของกำลังกระตุ้นที่พอร์ต (Port Excitation Power Error Correction)

นอกจากนี้ ยังสามารถชดเชยความคลาดเคลื่อนด้านการส่งผ่าน (Transmission Error) และความไม่แมตช์ (Mismatch Error) ที่เกิดจากชุดลดทอนเชิงกล (Mechanical Attenuator) ที่แตกต่างกันระหว่างแต่ละช่องสัญญาณได้ด้วยการคาลิเบรตเพียงครั้งเดียว

โหมดการตั้งค่าพารามิเตอร์การวัดที่สะดวกและมีประสิทธิภาพ

สามารถแก้ไขและตั้งค่าพารามิเตอร์การวัดผ่านไฟล์ XML ได้ โดยรองรับการนำเข้าพารามิเตอร์ด้วยคลิกเดียว และพารามิเตอร์ที่นำเข้าจะถูกอัปเดตไปยังหน้าจอเลือกพารามิเตอร์แบบเรียลไทม์

แก้ปัญหาการทดสอบอุปกรณ์ที่มีข้อต่อหรืออินเทอร์เฟซไม่มาตรฐาน

สำหรับการทดสอบอุปกรณ์ที่ใช้คอนเน็กเตอร์ไม่มาตรฐาน เช่น อุปกรณ์ไมโครเวฟแบบแพ็กเกจ หรืออุปกรณ์บนชิป (In-chip Devices) ซึ่งไม่สามารถเชื่อมต่อเข้ากับเครื่องวิเคราะห์โครงข่ายเวกเตอร์ (Vector Network Analyzer: VNA) ได้โดยตรง โดยทั่วไปจำเป็นต้องใช้อุปกรณ์ฟิกซ์เจอร์ (Fixture) เพื่อเชื่อมต่อชิ้นงานเข้ากับเครื่องมือวัด อย่างไรก็ตาม ฟิกซ์เจอร์อาจก่อให้เกิดความคลาดเคลื่อนในการวัดเพิ่มเติม

ฟังก์ชันถอดฟิกซ์เจอร์อัตโนมัติ (Automatic Fixture Removal / De-embedding) สามารถสกัด (Extract) และจัดเก็บพารามิเตอร์ของฟิกซ์เจอร์ รวมถึงทำการฝัง/แยกฝัง (Embedding / De-embedding) พารามิเตอร์ดังกล่าว เพื่อขจัดผลกระทบของฟิกซ์เจอร์ออกจากผลการวัด และทำให้ได้ค่าพารามิเตอร์ที่แท้จริงของอุปกรณ์ที่ทดสอบอย่างแม่นยำ

การใช้งานง่ายและความแม่นยำในการแก้ไขข้อผิดพลาดสูง

ฟังก์ชันการถอดฟิกซ์เจอร์อัตโนมัติ (Automatic Fixture Removal) มีข้อดีคือใช้งานง่ายและให้ความแม่นยำสูง คุณสมบัตินี้ไม่จำเป็นต้องทำการคาลิเบรตแบบกำหนดเอง (Custom Calibration) อีกทั้งยังสามารถขจัดครอสทอล์กทั้งฝั่งต้นทาง (Near-end Crosstalk) และปลายทางไกล (Far-end Crosstalk) ของฟิกซ์เจอร์แบบดิฟเฟอเรนเชียลได้ เหมาะสำหรับสถานการณ์การทดสอบที่ปลายด้านหนึ่งของฟิกซ์เจอร์อยู่ในสภาวะวงจรเปิด (Open Circuit) โดยยังคงให้ผลการแก้ไขค่าความคลาดเคลื่อนที่แม่นยำสูง

การใช้ฟังก์ชันถอดฟิกซ์เจอร์อัตโนมัติ สามารถสกัดพารามิเตอร์ของชิ้นงานโดยรวม สกัดพารามิเตอร์แบบบาลานซ์ และทำการฝังแบบสี่พอร์ตได้ โดยสามารถขจัดพารามิเตอร์การส่งผ่าน ครอสทอล์กฝั่งต้นทาง และครอสทอล์กฝั่งปลายทางได้อย่างมีประสิทธิภาพ

 specifications

 Download file